當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 計(jì)量檢測(cè)儀器 > 電子掃描顯微鏡 > KYKY-EM8000中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡
簡(jiǎn)要描述:中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡 KYKY-EM8000 非導(dǎo)體試樣或電子束敏感試樣可不噴涂導(dǎo)電膜直接觀測(cè),肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)炼雀?、單色性好、束斑小、壽命長(zhǎng)。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product classification詳細(xì)介紹
品牌 | KYKY/中科科儀 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
---|---|---|---|
背散射電子圖像分辨率 | 2-3000000倍 | 二次電子圖象分辨率 | 2nm |
加速電壓 | 0.02-30kV | 放大倍數(shù) | 2-3000000x |
價(jià)格區(qū)間 | 100萬(wàn)-150萬(wàn) | 儀器種類(lèi) | 冷場(chǎng)發(fā)射 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,制藥,綜合 |
中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡 KYKY-EM8000
適用于:電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動(dòng)植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料。
掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來(lái)掃描樣品,通過(guò)光束與物質(zhì)間的相互作用,來(lái)激發(fā)各種物理信息,對(duì)這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對(duì)物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達(dá)到1nm;放大倍數(shù)可以達(dá)到30萬(wàn)倍及以上連續(xù)可調(diào);并且景深大,視野大,成像立體效果好。此外,掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合,可以做到觀察微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應(yīng)用。因此掃描電子顯微鏡在科學(xué)研究領(lǐng)域具有重大作用。
優(yōu)點(diǎn)
1)肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)炼雀?、單色性好、電子束斑小、壽命長(zhǎng)
2)低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率
3)束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長(zhǎng)時(shí)間的各種精準(zhǔn)分析,如CL、EDS、EBSD
4)低加速電壓,可直接觀測(cè)電子束敏感樣品,不需噴金
5)操作簡(jiǎn)便,僅用鼠標(biāo)即可完成所有的電鏡操作
特點(diǎn)
高性能肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍?zhuān)炼雀?、單色性好、束斑小,壽命更長(zhǎng)
低加速電壓下,保持較好的亮度、分辨率
低加速電壓不導(dǎo)電樣品可以直接觀測(cè),無(wú)需噴金
束流穩(wěn)定度高,滿(mǎn)足長(zhǎng)時(shí)間工作需求
滿(mǎn)足用戶(hù)定制化需求,適合多模塊嵌入,多系統(tǒng)互聯(lián)
易操作,易維護(hù),性?xún)r(jià)比高,性能遠(yuǎn)高于普通鎢燈絲類(lèi)電鏡
中科科儀場(chǎng)發(fā)射槍掃描電鏡 KYKY-EM8000 參數(shù)
分辨率: 1.5nm@15KV(SE); 3nm@30KV(BSE)
放大倍率: 8-1600000倍
電子槍?zhuān)?肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
加速電壓: 0.02-30kV
樣品臺(tái): 手動(dòng)樣品臺(tái)(標(biāo)配)、五軸全自動(dòng)預(yù)對(duì)中樣品臺(tái)(選配)
探測(cè)器: 高真空二次電子探測(cè)器(具備防碰撞功能)
透鏡系統(tǒng): 多級(jí)高性能錐形透鏡系統(tǒng)
型號(hào) | KYKY-EM8000F | |
分辨率 | 1.5 nm(15KV); 5nm(3KV) | |
放大倍數(shù) | 15x~500,000x | |
加速電壓 | 0 ~ 30KV | |
電子槍 | Schottky肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍 | |
自動(dòng)調(diào)整功能 | 聚焦、亮度/對(duì)比度、消像散、電子束對(duì)中等 | |
真空系統(tǒng) | 高真空二次電子探測(cè)器(具備保護(hù)探測(cè)器探頭不被碰撞的功能) | |
行程 | X | 0 ~ 80mm |
Y | 0 ~ 60mm | |
Z | 0 ~ 50mm | |
R | 360° | |
T | -5° ~ 90° | |
探測(cè)器 | SE探測(cè)器,BSE探測(cè)器(可選),X-ray能譜儀(可選),EBSD(可選) |
尺寸
電子光學(xué)鏡筒部分: 800×800×1480(mm)
電器柜控制部分: 1340×850×740(mm)
優(yōu)勢(shì)
1. Schottky肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍亮度高、單色性好、電子束斑小,壽命長(zhǎng)
2. 低加速電壓下能保持較好的亮度和較高的分辨率
3. 束流穩(wěn)定度高、色散小,適宜于長(zhǎng)時(shí)間的各種精確分析,如BSE、EDS、EBSD
4. 低加速電壓不導(dǎo)電樣品可以直接觀測(cè),無(wú)需噴金
5. 多種自動(dòng)功能,操作十分簡(jiǎn)便,僅用鼠標(biāo)即可完成所有的電鏡操作
應(yīng)用領(lǐng)域
電池材料、半導(dǎo)體、復(fù)合材料、高分子、動(dòng)植物、微生物、粉末冶金、礦物、金屬行業(yè)、建筑材料、化工材料、陶瓷材料。
掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope,SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類(lèi)豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。
目前,掃描電子顯微鏡已被廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,僅在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。
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