奧林巴斯超聲探頭

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個(gè)通?？缮煽v波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的良好的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢(shì)

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

• 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。

• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。

• 可用于檢測(cè)多種材料。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。

• 分層缺陷的探測(cè)和定量。

• 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。

• 檢測(cè)平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬件。

• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

指尖接觸式

• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。

• 303不銹鋼外殼。

• 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面。

• 根據(jù)客戶的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8。

• 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。

雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢我們。

優(yōu)勢(shì)

• 改進(jìn)了近表面的分辨率。

• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。

• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。

• 減少了粗晶?；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍簟?/span>

• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。

• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

應(yīng)用

• 剩余壁厚測(cè)量。

• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。

• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。

• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。

• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍尖部雙晶）。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。

優(yōu)勢(shì)

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，還表現(xiàn)出良好的防磨特性。

• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。

• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計(jì)。

應(yīng)用

• 缺陷探測(cè)與定量。

• 要了解衍射時(shí)差探頭，請(qǐng)參閱第35頁(yè)。

• 檢測(cè)管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門與可更換的延遲塊一起使用。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供好的近場(chǎng)分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應(yīng)用

• 精確測(cè)厚。

• 垂直聲束缺陷探測(cè)。

• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)。可更換延遲塊探頭

• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

保護(hù)面探頭：

保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護(hù)膜。這個(gè)特點(diǎn)極大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測(cè)橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效果。

保護(hù)面探頭是一種單晶縱波接觸式探頭，可以裝配延遲塊、保護(hù)膜，或保護(hù)防磨

帽。

優(yōu)勢(shì)

• 具有很強(qiáng)的靈活適用性，提供可拆裝延遲塊、保護(hù)防磨帽和保護(hù)膜。

• 單獨(dú)使用探頭時(shí)（沒有附加任何可選配件），其環(huán)氧防磨面可提供匹配于塑料、很多復(fù)合材料及其它低阻抗材料的適當(dāng)?shù)穆曌杩埂?/span>

• 外殼帶有螺紋，方便了延遲塊、保護(hù)膜和防磨帽的安裝。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測(cè)

• 厚度測(cè)量

• 高溫檢測(cè)

• 平板、坯材、棒材及鍛件的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)面•

• 探頭的舒適套筒的設(shè)計(jì)目的是便于操作者在帶手套時(shí)抓取和握持探頭。

• 標(biāo)準(zhǔn)的連接器類型為直角BNC（RB）；也可以提供平直BNC（SB）連接器。

• 延遲塊、保護(hù)膜及防磨帽需與探頭分開訂購(gòu)。

水浸探頭：

水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線纜一起使用時(shí)，可以*浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對(duì)必須對(duì)工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來說，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦。

水浸探頭是一種單晶縱波探頭，帶有一個(gè)在聲學(xué)特性上與水相配的1/4波長(zhǎng)的層。這種探頭是為使超聲波在部分或全部浸在水中的被測(cè)工件中傳播而特別設(shè)計(jì)的。

優(yōu)勢(shì)

• 水浸技術(shù)提供了一種均勻耦合的方法。

• 四分之一波長(zhǎng)的匹配層加強(qiáng)了聲能的輸出。

• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。

• 射頻屏蔽功能可以提高關(guān)鍵性應(yīng)用的信噪比特性。

• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進(jìn)行球面（點(diǎn)）聚焦或柱面（線）聚焦。

• 用戶定制的聚焦長(zhǎng)度可根據(jù)用戶需求聚焦聲束，以提高檢測(cè)小反射體的靈敏度。

應(yīng)用

• 自動(dòng)掃查。

• 在線厚度測(cè)量。

• 高速探測(cè)管道、棒材、管件、平板及其它類似部件中的缺陷。

• 基于渡越時(shí)間和波幅的成像功能。

• 穿透檢測(cè)。

• 材料分析及聲速測(cè)量。

使用注意事項(xiàng)：

探頭浸于水中的時(shí)間不能超過8小時(shí)。探頭需要有16小時(shí)的干燥時(shí)間，以保證其使用壽命。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225

MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了空余的時(shí)間分辨率。

• 短波長(zhǎng)可獲得*的缺陷分辨率能力。

• 直徑極小的聲束也可以聚焦。

• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

• 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。

• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

• 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。

• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。

• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式

• 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí)，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。

• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。

奧林巴斯超聲探頭