渦流陣列無損檢測有哪些優(yōu)勢？

渦流陣列（ECA）是一種無損檢測技術(shù)，具有以電子方式驅(qū)動并排放置在同一個探頭組件中的多個渦流線圈的能力。探頭中每個單獨的渦流線圈都會產(chǎn)生一個相對于其下方結(jié)構(gòu)的相位和波幅的信號。這種數(shù)據(jù)與編碼位置和時間關(guān)聯(lián)，并以C掃描圖像形式表示。大多數(shù)傳統(tǒng)的渦流探傷技術(shù)都可以通過使用渦流陣列（ECA）檢測重現(xiàn)，不過，ECA技術(shù)具有顯著優(yōu)勢，可提高檢測能力，并大幅節(jié)省時間。

ECA技術(shù)包括以下優(yōu)勢特性：

·在保持高分辨率的同時，單次探頭掃查可以覆蓋更大的區(qū)域。

·不太需要復(fù)雜的機器人技術(shù)來移動探頭，只需簡單的手動掃查就足以完成檢測。

·C掃描成像提高了缺陷探測和定量性能。

·可以使用根據(jù)被檢測工件的輪廓定制的探頭對具有復(fù)雜形狀的工件進行檢測。

渦流陣列輔導(dǎo)穿透深度   

渦流密度在材料的整個深度上并不是一成不變的。表面的密度最大，隨著深度的增加，密度呈指數(shù)下降（“趨膚效應(yīng)"）。標準穿透深度方程（如右圖所示）用于解釋渦流檢測的穿透能力，即隨著頻率、電導(dǎo)率或滲透率的增加，穿透能力會下降。對于較厚的均質(zhì)材料，標準的穿透深度是渦流密度為材料表面值的37%時的深度。為了檢測材料中非常淺的缺陷，或為了測量薄板的厚度，需要使用非常高的頻率。同樣，為了探測到表面以下的缺陷，或檢測高導(dǎo)電性、磁性或厚材料時，必須使用較低的頻率。

其中：

d = 標準穿透深度（mm）

f = 檢測頻率（Hz）

mr = 相對磁導(dǎo)率（無量綱）

s = 電導(dǎo)率（% IACS）