超聲相控陣探傷儀有哪些優(yōu)勢？

超聲相控陣探傷儀原理

通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間，從而控制產生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。

相控陣探傷儀通過軟件可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發(fā)時間，從而控制產生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。

超聲相控陣探傷儀有哪些優(yōu)勢？

超聲相控陣探傷儀優(yōu)勢

1.實時彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會誤判或漏判缺陷；

2.相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態(tài)深度聚焦，從而同時具備寬波束和多焦點的特性，因此檢測速度可以更快更準；

3、相控陣具有更高的檢測靈活性，可以實現其它常規(guī)檢測技術所不能實現的功能，如對復雜工件檢測；

4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測范圍廣，定量、定位精度高；

5、掃查裝置簡單，便于操作和維護；使用更便捷，對人體無傷害，對環(huán)境無污染；

6、檢測結果受人為因素影響小，數據便于儲存、管理和調用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標在儀器上操作。

7、可以節(jié)省許多成本費用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動生成圖文缺陷報告，若有內部網路可以直接發(fā)送質檢報告到數據中心查閱。

超聲相控陣探傷儀有哪些優(yōu)勢？

超聲相控陣探傷儀探頭

常見的探頭陣列幾何外形如下：

線形陣

1.維線形陣

2.維矩形陣

圓形陣

1.維環(huán)形陣

2.維扇形陣